選擇冷熱沖擊試驗(yàn)箱時(shí)需要了解哪些信息？

在選擇冷熱沖擊試驗(yàn)箱時(shí)，需要了解以下基本的信息：

1、我們按照什么測試標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行？

2、標(biāo)準(zhǔn)里面的主要測試數(shù)據(jù)是什么？

3、試驗(yàn)箱的尺寸及性能選擇

4、買一個什么價(jià)位的試驗(yàn)箱適合自己？

5、需要注意的售后服務(wù)約定事項(xiàng)有哪些？

一、所屬行業(yè)的測試標(biāo)準(zhǔn)

不同行業(yè)對于產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)性有著不同的測試標(biāo)準(zhǔn)。我們以芯片行業(yè)為例，常見的測試標(biāo)準(zhǔn)有：

1、GB/T 4937.42-2023：半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第42部分溫度貯存，規(guī)定了芯片在不同溫度條件下貯存后的性能檢測要求，適用于評估芯片在極端溫度環(huán)境下的長期可靠性。

2、GB/T 2423系列標(biāo)準(zhǔn)：

試驗(yàn)A低溫試驗(yàn)方法：規(guī)定芯片在低溫環(huán)境下的性能測試要求。

試驗(yàn)B高溫試驗(yàn)方法：規(guī)定芯片在高溫環(huán)境下的性能測試要求。

3、企業(yè)或項(xiàng)目特定標(biāo)準(zhǔn)：根據(jù)芯片的實(shí)際應(yīng)用場景和客戶需求，可能還需遵循特定的企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)或項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)，這些標(biāo)準(zhǔn)可能對溫度范圍、循環(huán)次數(shù)、保持時(shí)間等參數(shù)有更嚴(yán)格的要求。

二、標(biāo)準(zhǔn)中的主要測試方法、流程與數(shù)據(jù)

? 高溫測試：將芯片置于設(shè)定的高溫環(huán)境中（如+150℃），保持一定時(shí)間（如1小時(shí)），觀察芯片的性能變化，包括功能是否正常、電氣參數(shù)是否在允許范圍內(nèi)波動等。

? 低溫測試：將芯片置于低溫環(huán)境（如-70℃），同樣維持特定時(shí)長（如1小時(shí)），檢測芯片在低溫下能否正常工作，是否出現(xiàn)性能退化現(xiàn)象。

? 冷熱沖擊測試：芯片在高溫箱（+150℃）與低溫箱（-70℃）間快速切換，模擬極端溫度變化環(huán)境，檢測芯片在這種動態(tài)環(huán)境下的可靠性。切換時(shí)間通常要求≤10秒，循環(huán)次數(shù)根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)要求而定。

三、試驗(yàn)箱的溫度及兩、三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱區(qū)別

1、溫度范圍：

依據(jù)芯片行業(yè)常見的測試標(biāo)準(zhǔn)，試驗(yàn)箱的溫度范圍通常需涵蓋-70℃~+150℃。部分高端芯片或特殊應(yīng)用場景下的芯片，可能需要更低的溫度（如-196℃，液氮制冷）或更高的溫度（如+200℃以上）。

2、兩箱式與三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱的區(qū)別：

兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱WSLR

兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱在進(jìn)行高低溫沖擊試驗(yàn)時(shí)測試籃是移動的，主要是靠測試籃在高溫區(qū)和低溫區(qū)中上下移動來完成高低溫沖擊轉(zhuǎn)換，兩箱式比三箱式的沖擊回復(fù)時(shí)間更短。

三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱WSLR

三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱在進(jìn)行高低溫沖擊試驗(yàn)時(shí)測試區(qū)是靜止的，主要是靠開關(guān)氣門，通過強(qiáng)制送風(fēng)系統(tǒng)來完成高低溫沖擊轉(zhuǎn)換，三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱不僅可以進(jìn)行高低溫沖擊測試，還可以進(jìn)行常溫沖擊測試。

四、尺寸選擇

1、容積適配

試驗(yàn)箱工作室的容積需合理適配芯片樣品的大小與數(shù)量。一般建議樣品體積占試驗(yàn)箱工作室容積的1/3-1/5較為理想，且樣品距離箱壁應(yīng)至少保持150mm的間距，以確保箱內(nèi)溫度場的均勻性。

2、常見機(jī)型

常見的標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型有：

80L  （內(nèi)膽尺寸400×500×400mm）

150L （內(nèi)膽尺寸500×600×500mm）

225L （內(nèi)膽尺寸500×750×600mm）

1000L（內(nèi)膽尺寸1000×1000×1000mm）等。

如果芯片樣品尺寸較大或測試量較多，可能需要定制非標(biāo)準(zhǔn)尺寸的試驗(yàn)箱。

基本參數(shù)

3、空間考慮

還需考慮試驗(yàn)箱在實(shí)驗(yàn)室中的擺放空間，確保設(shè)備周圍預(yù)留至少80cm的維護(hù)空間，并且設(shè)備的尺寸要能適配實(shí)驗(yàn)室的門寬與電梯尺寸，方便設(shè)備的搬運(yùn)與安裝。

五、價(jià)格區(qū)間

市場上冷熱沖擊試驗(yàn)箱的價(jià)格因品牌、規(guī)格、性能參數(shù)以及配置的不同而存在較大差異：

1、小型試驗(yàn)箱：功能較為基礎(chǔ)，價(jià)格可能在十幾萬元，適用于對測試要求相對簡單、預(yù)算有限的企業(yè)。

2、中等規(guī)格試驗(yàn)箱：具備常規(guī)溫度控制精度和功能，價(jià)格通常在10萬元-30萬元之間，能夠滿足大多數(shù)芯片廠家的日常測試需求。

3、大型高端試驗(yàn)箱：對溫度范圍、升降溫速率等要求極高，且配備高端配件與先進(jìn)控制系統(tǒng)，價(jià)格可能高達(dá)50萬元以上甚至更高。

在確定預(yù)算時(shí)，企業(yè)不僅要考慮設(shè)備的采購成本，還應(yīng)綜合考慮設(shè)備的運(yùn)行成本、維護(hù)成本以及后續(xù)可能的升級成本等因素。

六、評估供應(yīng)商的售后服務(wù)能力

1、響應(yīng)時(shí)間

了解供應(yīng)商承諾的售后服務(wù)響應(yīng)時(shí)間，如在接到設(shè)備故障報(bào)修后，多長時(shí)間內(nèi)能夠給出初步解決方案，多長時(shí)間內(nèi)能夠派遣技術(shù)人員到達(dá)現(xiàn)場進(jìn)行維修。對于芯片廠家這類生產(chǎn)連續(xù)性要求較高的企業(yè)，快速的響應(yīng)時(shí)間能夠最大程度減少設(shè)備故障對生產(chǎn)造成的影響。

2、保修期限

明確供應(yīng)商提供的設(shè)備保修期限，以及在保修期內(nèi)的保修范圍。是整機(jī)保修還是部分關(guān)鍵部件保修，保修期間是否包含上門維修服務(wù)、更換零部件的費(fèi)用等。

3、技術(shù)支持

考察供應(yīng)商是否具備專業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊(duì)，能夠?yàn)槠髽I(yè)提供設(shè)備操作培訓(xùn)、日常維護(hù)指導(dǎo)以及在設(shè)備出現(xiàn)復(fù)雜故障時(shí)提供遠(yuǎn)程或現(xiàn)場的技術(shù)支持。例如，在企業(yè)進(jìn)行新的芯片測試項(xiàng)目，需要對試驗(yàn)箱的參數(shù)設(shè)置或測試程序進(jìn)行優(yōu)化時(shí)，供應(yīng)商能否提供有效的技術(shù)建議。

4、合同條款約束

在簽訂采購合同前，務(wù)必將售后服務(wù)的相關(guān)內(nèi)容明確寫入合同條款，包括但不限于售后服務(wù)的具體內(nèi)容、響應(yīng)時(shí)間、保修期限、維修費(fèi)用的承擔(dān)方式等。這樣在后續(xù)設(shè)備使用過程中，如果出現(xiàn)售后服務(wù)糾紛，企業(yè)能夠依據(jù)合同條款維護(hù)自身合法權(quán)益。

想了解關(guān)于冷熱沖擊試驗(yàn)箱的規(guī)格介紹，請參考如下頁面：

http://www.wlmqxgbb.com