在選擇高低溫濕熱試驗(yàn)箱時(shí),需要了解以下基本的信息:
1、我們按照什么測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行?
2、標(biāo)準(zhǔn)里面的主要測(cè)試數(shù)據(jù)是什么?
3、試驗(yàn)箱的尺寸及性能選擇?
4、買(mǎi)一個(gè)什么價(jià)位的試驗(yàn)箱適合自己?
5、需要注意的售后服務(wù)約定事項(xiàng)有哪些?
不同行業(yè)對(duì)于產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)性有著不同的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。我們以芯片行業(yè)為例,常見(jiàn)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)有:
1、GB/T 4937.42 - 2023:半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第 42 部分溫濕度貯存,該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了芯片在不同溫濕度條件下貯存后的性能檢測(cè)要求。
2、GB/T2423 系列標(biāo)準(zhǔn):涵蓋了電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)的多個(gè)方面。如試驗(yàn) A 低溫試驗(yàn)方法、試驗(yàn) B 高溫試驗(yàn)方法、試驗(yàn) Cab 恒定濕熱試驗(yàn)、試驗(yàn) Db 交變濕熱(12h + 12h 循環(huán))等。這些標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)范了芯片在高低溫及濕熱環(huán)境下的試驗(yàn)流程與判定準(zhǔn)則。
? 高溫測(cè)試:在高溫測(cè)試中,通常將芯片置于設(shè)定的高溫環(huán)境中,保持一定時(shí)間,觀(guān)察芯片的性能變化,如功能是否正常、電氣參數(shù)是否在允許范圍內(nèi)波動(dòng)等。
? 低溫測(cè)試:低溫測(cè)試則是將芯片置于低溫環(huán)境,同樣維持特定時(shí)長(zhǎng),檢測(cè)芯片在低溫下能否正常工作,是否出現(xiàn)性能退化現(xiàn)象。
? 濕熱測(cè)試:濕熱測(cè)試包含恒定濕熱與交變濕熱。恒定濕熱是讓芯片處于固定的溫濕度組合環(huán)境下,考驗(yàn)其長(zhǎng)時(shí)間耐受能力;交變濕熱則模擬實(shí)際環(huán)境中溫濕度交替變化的情況,檢測(cè)芯片在這種動(dòng)態(tài)環(huán)境下的可靠性。
1、溫度范圍:
我們先以GB/T 4937.42 - 2023標(biāo)準(zhǔn)為例,在標(biāo)準(zhǔn)的5.3.3 項(xiàng)持續(xù)試驗(yàn)時(shí)間里有明確要求,我們看下圖中的數(shù)據(jù):
上述圖表中可以得出結(jié)論,我們需要選擇的溫度范圍是40℃~130℃(偏差±2℃) ,相對(duì)濕度范圍是85%~98%Rh
我們?cè)倏?/span>GB/T2423.1-2008 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)里的測(cè)試要求,我們可以看下圖中的數(shù)據(jù):
上述圖表中可以得出結(jié)論,我們需要選擇的溫度范圍是-65℃~-5℃(持續(xù)時(shí)間最長(zhǎng)96小時(shí))
通過(guò)上述兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)里的描述,綜合在一起,我們基本可以定下來(lái)選擇的試驗(yàn)箱溫度范圍是:-65℃~130℃,濕度范圍是:85%~95%(但市面上的高低溫濕熱試驗(yàn)箱的標(biāo)準(zhǔn)濕度范圍一般在20%~98%,所以我們可以直接選擇20%~98%,對(duì)成本無(wú)影響。)
2、升降溫速率:在GB2423不同的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)對(duì)升降溫速率有不同規(guī)定。例如,某些快速溫變?cè)囼?yàn)可能要求升溫速率達(dá)到 5℃/min 甚至更高,降溫速率達(dá)到 3℃/min 左右。而常規(guī)測(cè)試的升降溫速率可能在 1℃/min - 2℃/min 之間。企業(yè)需根據(jù)自身芯片測(cè)試所依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn),確定試驗(yàn)箱所需的升降溫速率。
1、測(cè)試區(qū)尺寸的選擇:
試驗(yàn)箱工作室的容積需合理適配芯片樣品的大小與數(shù)量。一般建議樣品體積占試驗(yàn)箱工作室容積的 1/3 - 1/5 較為理想,且樣品距離箱壁應(yīng)至少保持 100mm 的間距,以確保箱內(nèi)溫濕度場(chǎng)的均勻性。常見(jiàn)的標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型有:
80L(內(nèi)膽尺寸 400×500×400mm)
150L(內(nèi)膽尺寸 500×600×500mm)
225L(內(nèi)膽尺寸 500×750×600mm)
408L(內(nèi)膽尺寸 600×850×800mm)
512L(內(nèi)膽尺寸 800×800×800mm)
1000L(內(nèi)膽尺寸 1000×1000×1000mm)等。
如果芯片樣品尺寸較大或測(cè)試量較多,可能需要定制非標(biāo)準(zhǔn)尺寸的試驗(yàn)箱。
2、場(chǎng)地方面的注意:
在選擇試驗(yàn)箱時(shí),還需考慮試驗(yàn)箱在實(shí)驗(yàn)室中的擺放空間,確保設(shè)備周?chē)A(yù)留至少100cm 的維護(hù)空間,并且設(shè)備的外尺寸要能適配實(shí)驗(yàn)室的門(mén)寬與電梯尺寸等,方便設(shè)備的搬運(yùn)與安裝,所以在咨詢(xún)的時(shí)候要讓試驗(yàn)箱供應(yīng)商準(zhǔn)確注明試驗(yàn)箱的外尺寸。
市場(chǎng)上高低溫濕熱試驗(yàn)箱的價(jià)格因品牌、規(guī)格、性能參數(shù)以及配置的不同而存在較大差異。
我們以80L和1000L兩種規(guī)格的試驗(yàn)箱為例:
1、80L的試驗(yàn)箱價(jià)格,一般便宜的價(jià)格約在20000元左右,品牌好一些的價(jià)格大概在70000元左右,通常如果想要買(mǎi)一臺(tái)質(zhì)量過(guò)得去,又能有些售后保障的試驗(yàn)箱,建易選擇的廠(chǎng)商價(jià)格不要低于35000元。
2、1000L的試驗(yàn)箱價(jià)格,一般便宜的價(jià)格大約在40000元左右,品牌好一些的價(jià)格大概在13、4萬(wàn),通常如果想要買(mǎi)一臺(tái)質(zhì)量過(guò)得去,又能有些售后保障的試驗(yàn)箱,建易選擇的廠(chǎng)商價(jià)格不要低于70000元。
當(dāng)然價(jià)格問(wèn)題,只是簡(jiǎn)單建議,具體還是深入要了解供應(yīng)商的詳細(xì)信息,無(wú)論是品牌、工藝、可靠性、測(cè)試精度、使用成本(能耗控制)、售后保障(尤其重要,因?yàn)閮x器在使用上一定會(huì)出現(xiàn)一些問(wèn)題,尤其是高頻率使用的情況下)等等都要詳細(xì)了解。
1、響應(yīng)時(shí)間:了解供應(yīng)商承諾的售后服務(wù)響應(yīng)時(shí)間,如在接到設(shè)備故障報(bào)修后,多長(zhǎng)時(shí)間內(nèi)能夠給出初步解決方案,多長(zhǎng)時(shí)間內(nèi)能夠派遣技術(shù)人員到達(dá)現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行維修。對(duì)于芯片廠(chǎng)家這類(lèi)生產(chǎn)連續(xù)性要求較高的企業(yè),快速的響應(yīng)時(shí)間能夠最大程度減少設(shè)備故障對(duì)生產(chǎn)造成的影響。
2、保修期限:明確供應(yīng)商提供的設(shè)備保修期限,以及在保修期內(nèi)的保修范圍。是整機(jī)保修還是部分關(guān)鍵部件保修,保修期間是否包含上門(mén)維修服務(wù)、更換零部件的費(fèi)用等。
3、技術(shù)支持:考察供應(yīng)商是否具備專(zhuān)業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊(duì),能夠?yàn)槠髽I(yè)提供設(shè)備操作培訓(xùn)、日常維護(hù)指導(dǎo)以及在設(shè)備出現(xiàn)復(fù)雜故障時(shí)提供遠(yuǎn)程或現(xiàn)場(chǎng)的技術(shù)支持。例如,在企業(yè)進(jìn)行新的芯片測(cè)試項(xiàng)目,需要對(duì)試驗(yàn)箱的參數(shù)設(shè)置或測(cè)試程序進(jìn)行優(yōu)化時(shí),供應(yīng)商能否提供有效的技術(shù)建議。
4、合同條款約束:在簽訂采購(gòu)合同前,務(wù)必將售后服務(wù)的相關(guān)內(nèi)容明確寫(xiě)入合同條款。包括但不限于售后服務(wù)的具體內(nèi)容、響應(yīng)時(shí)間、保修期限、維修費(fèi)用的承擔(dān)方式等。這樣在后續(xù)設(shè)備使用過(guò)程中,如果出現(xiàn)售后服務(wù)糾紛,用戶(hù)能夠依據(jù)合同條款維護(hù)自身合法權(quán)益。
想了解關(guān)于高低溫濕熱試驗(yàn)箱的規(guī)格介紹,請(qǐng)參考如下頁(yè)面:
https://www.weisstech.com.cn/lm1/77.html